MicroSoldagem
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Bom dia, É alto o consumo se tratando de um iPhone 5S. No geral, o pico máximo é de 50mAh. No aparelho em questão, o pico mínimo é 50mAh. Tem em sua bancada câmera térmica? Ela seria muito útil para identificar se há aquecimento em algum componente da PCI. Em alguns casos que tive, além do tristar, componentes do setor de RF apresentavam aquecimento. Foram trocados e problema de consumo de bateria foi resolvido.
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Bom dia, Esse CI pode ser trocado, desde que seja feito a leitura dos dados previamente e gravado no novo chip. JCPRO tem um adaptador que faz essa leitura e gravação. Porém, como o que tem em mãos está danificado, eu desconheço outra forma de fazer a troca deste componente.
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Boa noite Tiago, Você pode testar usando o modo diodo do multímetro do flex do botão home, a fim de ver se tem algum capacitor em curto. Porém, pelo que descreveu, me parece que o U10 está danificado. É o CI que fica no flex do botão home. Se não achar nenhum curto, terá que fazer a troca dele.
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O consumo para porque o consumo encontra outra fonte de alimentação. Retire as blindagens da placa e verifique com o microscópio a fim de ver se tem algum capacitor danificado ou se há marcas de oxidação. Pode ser que seja o U2 danificado. No iPhone 5g é bem difícil fazer a troca desse componente, mais com bastante cautela dá pra fazer
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Cliente deu detalhes de como esse problema começou? Testou qual tensão chega ao conector de bateria ao conectar o carregador?
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Olá, Tem marcas de ter sido molhado esse aparelho?
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Ola, Provavelmente o conector FPC na placa esta danificado ou algum componente próximo à ele foi arrancado.
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Olá Willian, Dificilmente erro 4013 nos iPhone 6s, 7 será NAND com problema. Geralmente está relacionado à problemas com a baseband. Com a nova atualização do IOS, geralmente este erro não é mais apresentado, e o telefone conclui a atualização mesmo com problemas na baseband. Pode ser PMU_RF, BB_CPU ou outro componente relacionado ao setor de RF. Erro na NAND geralmente dará erro 9 nestes modelos, e poderá solucioná-los com a JC-Pro1000s, IPBox (versão nova, com suporte para PCI-E) ou outra ferramenta que faça leitura e gravação dos novos modelos PCIE usadas nos iPhones 6s e 7.
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Olá, Chip U10 no flex do touch ID está danificado. Fazendo a troca desse IC resolve esse problema. Como sugestão, use baixa temperatura na estação de retrabalho e se possível, com pré-heater a fim de evitar danificar o flex.
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Boa noite, O CI de carga é o Tigris. Ele foi trocado? Na grande maioria dos casos, o problema é no tristar, famoso U2, que é um CI de comunicação. Trocamos e problema resolvido. Porém, o CI de Carga é o Tigris. Nele que se gera a a linha PP_BATT_VCC
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Boa noite, O teste ideal é digitar *#06# no momento em que ele está sem serviço. Como se trata de um defeito muito comum nos iPhone 6 e 6 Plus, eu apostaria na baseband. Se tiver prática em solda BGA, retire o chip da baseband e faça o reballing. Apenas o reflow não é o suficiente, pois poucos dias ou semanas depois o problema volta a aparecer.
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Bom dia, Você trocou a NAND do aparelho ou está usando a original dele?
